Textur (Kristallografie)

Textur-Poolfiguren vun gamma-TiAl in en alpha2-gamma Tweephasenlegeren.^[1]

Ünner Textur versteiht man in de Kristallografie de Gesamtheit vun de Orienteeren vun de Kristalliten in en veelkristallinen Fastkörper.

Ut de Textur gifft sik sünners de Anisotropie vun de mechaansch Verformborkeit vun vele metallsche Warkstoffen. En faken anföhrt Bispeel dorför is de Zippelbilln, bi’t Deeptehn vun Blicken, as ok de Anisotropie vun de magneeetschen Egenschoppen vun enige weekmagneetsche (t. B. koornorienteert Elektroblick) un hartmagneetsche (t. B. anisotrop Alnico Magneten, Samarium-Kobalt-Legeeren, anisotrop Neodym-Iesen-Bor-Legeeren, hardmagneetsch Ferriten).

Wenn de Kristalliten kumplett regellos verdeelt sünd, het de Warkstoff isotrope Egenschoppen, d. h. sien Egenschoppen sünd in all Richten in’n Ruum gliek. Bi Vörgäng vun’t Verklamen kummt dat aver faken to en richt Wassdom vun de Kristalliten, in’n Grenzfall sogor to’n Billn vun Eenkristallen. Ok dör Ümformen vun’n Warkstoff as Kooltwalzen oder Tehn warrt Texturen tüügt, un bi hardmagneetsch Warkstoffen warrt pulverförmige Kristalliten dör Magnetfeller wiel den Sintervörgang utricht. Bi Deeptehstahlen warrt dat tardelförmige Kristallgidder möglichst so utricht, dat een Ruumdiagonalricht vun’n Tardel in Walzricht wiest. Koornorienteert Elektroblick hett mit en Fehlorienteerenwinkel vun weniger as 3° en düchtig scharpe Textur, de na ehrn Utfinner nöömte Goss-Textur. Dorbi wiest de magneetsch lichte Richt, een Tardelkant, in Walzricht.

Historie

Ofschoonst in’t 19. Johrhunnert al veel över de Textur vun vele Stenen bekannt weer, as to’n Bispeel bi Schiver, keem ehr nauere Ünnersöken erst so richtig in de Gäng mit dat Opdecken vun de Röntgenstrahlen dör Max von Laue 1912. De Filmverfohren möken toeerst de Afbilln vun Polfiguren möglich, worut de Vörtogsorienteeren (so nöömte Ideallagen) afschätzt weern. Dör dat Entwickeln vun Tellrohrdetekters un dat Insetten vun Neutronenborns in Forschensreakters künnen de Polfiguren veel nauer bestimmt warrn. Ne’ere Verfohren brukkt 2D-Detekters, Synchrotonstrahlen, Veeldetekters – Flaagtietspektrometers un Elektronenbeugen in Rasterelektronenmikroskopen.

In de 1960er Johren is de quantitative Beschrieven vun de Textur dör de so nöömte Orienteerensdichtvedeelensfunkschoon (ODF) utklamüstert worrn.

Weblinks

↑ Liss KD, Bartels A, Schreyer A, Clemens H: High energy X-rays: A tool for advanced bulk investigations in materials science and physics. In: Textures Microstruct.. 35, Nr. 3/4, S. 219–52. doi:10.1080/07303300310001634952.

[Liss-1] Liss KD, Bartels A, Schreyer A, Clemens H: High energy X-rays: A tool for advanced bulk investigations in materials science and physics. In: Textures Microstruct.. 35, Nr. 3/4, S. 219–52. doi:10.1080/07303300310001634952.

[1]